Program będzie obejmować zagadnienia:
- budowy spektrometrów XRF,
- podstaw spektrometrii rentgenofluorescencyjnej – zjawiska i efekty matrycowe,
- preparatyki próbek różnych typów,
- rozwiązań stosowanych w kalibracji spektrometrów XRF,
- materiałów kalibracyjnych i certyfikowanych materiałów odniesienia dla techniki XRF
oraz część warsztatową – przygotowanie aplikacji analitycznej i analiza bezwzorcowa OMNIAN.
Termin szkolenia: 06-07.06.2024
Miejsce szkolenia: HOTEL MERCURY (ul. Młyńska 6, 40-098 Katowice)
Koszt szkolenia: 1500,00 zł
Opłata pokrywa wszystkie koszty uczestnictwa w seminarium, zakwaterowania i wyżywienia.
Po szkoleniu wszystkim Uczestnikom zostaną wystawione certyfikaty uczestnictwa.
Zgłoszenia prosimy kierować na adresy: piotr.jakiela@malvernpanalytical.com,
jerzy.czachorski@malvernpanalytical.com
Uwaga: Dla osób pracujących w jednostkach publicznych, których udział w seminarium szkoleniowym będzie w całości sfinansowany ze środków publicznych, możliwe jest zwolnienie z naliczenia podatku VAT.
