Kategorie
Aktualności

Podsumowanie 21. Międzynarodowej Konferencji Analityki Hutniczej i Przemysłowej

W dniach 2-4 czerwca 2025 roku odbyła się 21. Międzynarodowa Konferencja Analityki Hutniczej i Przemysłowej zorganizowana przez Łukasiewicz – GIT i Łukasiewicz – IMN. W wydarzeniu wzięli udział eksperci z zakresu chemii analitycznej oraz liczni przedstawiciele instytutów naukowych i firm technologicznych.

Tematyka konferencji obejmowała:

  • chemiczne i fizykochemiczne metody analizy surowców, produktów i odpadów przemysłowych,
  • chemiczne i fizykochemiczne metody kontroli w technologii hutniczej i innych działach przemysłu,
  • ocenę wyników analiz chemicznych, organizację laboratorium i zapewnienie jakości,
  • Certyfikowane Materiały Odniesienia,
  • analitykę zanieczyszczeń organicznych w surowcach i odpadach przemysłowych,
  • optymalizację wyposażenia instrumentalnego laboratoriów, nowości w technikach instrumentalnych,
  •  środowisko naturalne i środowisko pracy w okręgach przemysłowych.

Udział w wydarzeniu umożliwił:

  •     wymianę doświadczeń z obszaru chemii analitycznej,
  •     zdobycie wiedzy z zakresu prowadzenia prac badawczych,
  •     zapoznanie się z najnowszymi rozwiązaniami aparaturowymi,
  •    zaprezentowanie wyników badań w specjalnym panelu: „wykłady w komfortowej atmosferze”.

Gościem specjalnym był Wiktor Niedzicki, który w wykładzie pt.  „Dlaczego Kain zabił Abla?” opowiedział o ciekawych, a często kryminalnych historiach związanych z pomiarami. Słuchacze dowiedzieli się  mi.in., dlaczego Archimedes wyskoczył nago z wanny? Co ukrył Ptolemeusz? Czy ludzie lubili geodetów? Jak powstał „metr”? Po co Kolumb oszukał królów?

Patronem medialnym był laboratoryjnie.pl

Honorowy Patronat nad konferencją objął Prezesa Głównego Urzędu Miar.

 

Kategorie
Aktualności Wydarzenia

Seminarium szkoleniowe „XRF od próbki do wyniku”

Program będzie obejmować zagadnienia:

  • budowy spektrometrów XRF,
  • podstaw spektrometrii rentgenofluorescencyjnej – zjawiska i efekty matrycowe,
  • preparatyki próbek różnych typów,
  • rozwiązań stosowanych w kalibracji spektrometrów XRF,
  • materiałów kalibracyjnych i certyfikowanych materiałów odniesienia dla techniki XRF

oraz część warsztatową – przygotowanie aplikacji analitycznej i analiza bezwzorcowa OMNIAN.

Termin szkolenia: 06-07.06.2024

Miejsce szkolenia: HOTEL MERCURY (ul. Młyńska 6, 40-098 Katowice)

Koszt szkolenia: 1500,00 zł
Opłata pokrywa wszystkie koszty uczestnictwa w seminarium, zakwaterowania i wyżywienia.
Po szkoleniu wszystkim Uczestnikom zostaną wystawione certyfikaty uczestnictwa.

Zgłoszenia prosimy kierować na adresy: piotr.jakiela@malvernpanalytical.com,
jerzy.czachorski@malvernpanalytical.com

Uwaga: Dla osób pracujących w jednostkach publicznych, których udział w seminarium szkoleniowym będzie w całości sfinansowany ze środków publicznych, możliwe jest zwolnienie z naliczenia podatku VAT.

This will close in 0 seconds